発表日:2021年11月08日
高速スキャン・テストとソフトウェアベースのファンクション・テストを実現
V93000の新デジタル・カード「Link Scale(TM)」を発表
株式会社アドバンテスト（本社:東京都千代田区 代表取締役社長:吉田 芳明）は、テスト・システム「V93000」用の新デジタル・カード「Link Scale(TM)」を発表しました。これにより、先端デバイスのソフトウェアベースのファンクション・テストや、USBやPCI Express（PCIe）を介した高速スキャン・テストが可能になります。高速シリアル・インタフェースをプロトコル・モード（*1）で動作させることによって、V93000上でシステム・レベルと同等の「system-like test(TM)」をご利用いただけます。
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