発表日:2021年11月29日
メモリ・テスト・システム新製品「T5221」を発表
NANDフラッシュを含む不揮発性メモリIC向け、マルチ・プローバーに対応
株式会社アドバンテスト（本社:東京都千代田区 代表取締役社長:吉田 芳明）は、NANDフラッシュをはじめとする不揮発性メモリを高精度にテストするメモリ・テスト・システム「T5221」を発表しました。従来製品比 5倍のデータ転送速度、マルチ・プローバー内部に組み込み可能な省スペース、最大12台のテスト・ステーションを同時測定可能といった特長を備え、テストコストの削減とスループットの向上を可能にします。ウェーハ・テスト、BIST（Built-In Self-Test:デバイス内部に自己診断回路を組み込むテスト手法）およびウェーハ・バーンイン・テストのいずれにもご利用いただけます。
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