日立ハイテクサイエンス、偏光ゼーマン原子吸光光度計「ZA4000」シリーズ4機種を発売
発表日:2023年09月01日
偏光ゼーマン原子吸光光度計「ZA4000」シリーズ4機種を発売
複数元素の連続測定を実現し、高精度かつ効率的な分析業務に貢献
株式会社日立ハイテクサイエンス(以下、日立ハイテクサイエンス)は、偏光ゼーマン原子吸光光度計「ZA4000」シリーズ(以下、本シリーズ)を発売しました。
原子吸光光度計は液体中に含まれる金属元素を測定する装置で、試料を加熱することで金属を原子化して測定します。加熱方法には炎を用いるフレーム法と電流を用いるグラファイトファーネス法の2種類あり、本シリーズにおいては、フレーム・グラファイトファーネス両用機「ZA4000」、フレーム専用機「ZA4300」、グラファイト専用機「ZA4700」、さらにこのたび複数元素の連続測定を実現したラピッドシーケンシャルフレーム機「ZA4800」の計4製品をラインアップしました。
本シリーズは、測定対象以外の共存物などによる測定結果への影響を取り除くバックグラウンド補正機能である日立独自の偏光ゼーマン補正法(1)とデュアル検知方式(2)を前シリーズから継続して搭載し、安定した高精度分析を提供します。今回新たにラインアップしたラピッドシーケンシャルフレーム機「ZA4800」では、測定に必要な波長の光を分光する回折格子の駆動機構を新たに設計し、さらに光源であるホローカソードランプの4本同時点灯を実現しました。これにより、同一試料に対して最大12元素の連続測定が可能になり、分析業務にかかる時間を大幅に削減します。また、試料注入、測定終了などのタイミングを自動通知する機能や、グラファイトファーネス法においては装置からのコンタミネーション(*3)を診断する機能により、操作性が向上したことで、分析業務に不慣れな方や初めて日立ハイテクサイエンス製の原子吸光光度計を使用する方でも、簡単に操作することができます。
本シリーズの販売により、高精度で高信頼な分析装置の提供およびお客様の分析業務の効率向上に貢献します。
*1 偏光ゼーマン補正法:原子吸光スペクトルに磁場を印加することでバックグラウンドを補正する方法
*2 デュアル検知方式:バックグラウンド補正を行うために測定する二つの信号を独立した検知器で検知する方式
*3 コンタミネーション:測定試料以外からの目的元素の汚れ
コメント
この記事へのトラックバックはありません。
この記事へのコメントはありません。